磨損顆粒的元素識(shí)別一般使用旋轉(zhuǎn)圓盤電極(RDE)或電感耦合等離子體(ICP)的原子發(fā)射光譜法進(jìn)行。

然而這兩種技術(shù)不能夠檢測(cè)出大顆粒。因此人們已經(jīng)開(kāi)發(fā)了其他輔助技術(shù)來(lái)幫助增加原子發(fā)射的大顆

粒檢測(cè)能力。這些技術(shù)包括 Rotrode Filter Spectroscopy(RFS)和酸解。這些輔助技術(shù)需要耗費(fèi)大量

時(shí)間并需要制備大量的特殊的樣品，并且在酸解時(shí)需使用危險(xiǎn)化學(xué)品.

      XRF也是原子發(fā)射光譜，主要用于合金材料元素分析。在潤(rùn)滑油檢測(cè)中，主要用于S、P、Cl等鹵族元素的檢測(cè)，受基質(zhì)效應(yīng)和單點(diǎn)激發(fā)的限制，XRF不適合檢測(cè)潤(rùn)滑油中金屬元素，尤其是在用油中金屬元素的含量檢測(cè)，目前也沒(méi)有任何關(guān)于XRF在用油檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)。

       但XRF有一個(gè)優(yōu)勢(shì)，它能激發(fā)相對(duì)較大顆粒進(jìn)行元素檢測(cè)，因此，斯派超科技FieldLab58創(chuàng)新的將潤(rùn)滑油過(guò)濾后，使用XRF直接檢測(cè)濾膜上的磨損顆粒，通過(guò)內(nèi)置的全球僅有的大顆粒元素分析校準(zhǔn)程序，將其變?yōu)橐环N非常理想的現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備磨損篩查和故障預(yù)警手段。